ULTRARAM能否成为下一代通用内存?

2022-01-19 17:26 来源:电子说

电子发烧友网报道(文/周开阳)逻辑状态切换的快速、非易失、高续航、低功耗,所有这些特性都汇聚在一个通用内存中,这在过去被认为是不可能的,因为它们所要求的物理特性是相反的。传统上,快速持久的内存往往配备脆弱且容易丢失的逻辑状态,甚至需要不断刷新,比如我们的DRAM动态随机存储器。然而,非易失性逻辑状态往往需要大量的能量来切换,随着时间的推移,会慢慢破坏内存结构,降低其耐用性,比如我们的闪存。

即便如此,对通用存储器的追求也从未停止,近年来涌现出许多创新技术,如电阻式ReRAM、磁MRAM或相变PCM等。这些存储技术也取得了惊人的进步,或多或少进入了商业化阶段。比如三星最近宣布首次实现了基于MRAM的内存计算,未来很有可能在AI和可穿戴设备中普及。然而,尽管这些技术已经解决了波动性的问题,但逻辑状态稳定性和开关能耗的问题并没有得到改善。

最近,一种名为ULTRARAM的技术进入了我们的视野,并宣称有望成为下一代通用存储器。

ULTRARAM

这里的ULTRARAM不是Xilinx UltraScale FPGA中的SRAM Ultraram,而是英国兰开斯特大学研究人员提出的全新通用内存替代技术。ULTRARAM也是一种非易失性存储技术,通过三势垒的共振隧穿异质结构,可以实现电子在浮栅上的快速、超低能量存储。兰开斯特大学的研究人员已经完成了这项技术在硅衬底上的实现,这也是走向大规模生产的重要成果。

ULTRARAM的异质结构主要基于-族化合物。利用砷化铟量子阱和锑化铝势垒,产生了三势垒共振隧穿结构。与构成浮栅的砷化铟相比,2.1 eV的锑化铝导带偏移为电子通过提供了屏障,相当于闪存中的二氧化硅介质。只要施加约2.5V的低电压,势垒对电子就透明。在极小的电容下,ULTRARAM的单位面积开关能量损耗比DRAM和闪存分别降低了100倍和1000倍。

此外,高耐用性是ULTRARAM的另一个主要优势。通过对设备的进一步测试,兰开斯特大学的研究人员取得了可喜的成果。数据存储寿命可达1000年,编程/擦除周期可达1000万次。这两个数据比闪存高100多倍。

事实上,早在2016年,欧洲就投入了100万欧元用于数据存储应用中锑化物的研究,并进行了为期三年的研究,欧洲四所大学参与其中,英国兰卡斯特大学就是其中之一。现在ULTRARAM作为通用内存的替代技术终于有了很大的突破,有机会成功替代传统内存和存储吗?先来看看业界的其他尝试,再下结论。

非易失性存储器的尝试

相信大家或多或少都听过英特尔的傲腾持久内存。凭借其高性能,傲腾获得了一批企业用户。虽然奥腾给出的愿景很美好,但从事实的角度来看,在英特尔去年第三季度的财务报告中,奥腾的业务在2020年前9个月亏损了4.73亿美元,同样布局3D XPoint的Micron也在去年上半年停止了开发。

这一切都说明奥腾的市场反响并不好,主要是因为它的成本和可扩展性。与NAND等竞争产品相比,无论是价格还是容量,傲腾确实是一个昂贵的选择。英特尔宁愿放弃NAND业务,维持奥腾的亏损。第一,因为体积大,可以承受这样的损失。二是看好傲腾在智能NIC和DPU的潜力。但是,既然英特尔放弃了傲腾在台式PC上的方案,就不能称之为“通用”内存。

另外,我们上面提到的MRAM,其实三星在MRAM的突破或多或少缓解了传统存储介质的能耗问题,但MRAM最终并没有解决容量问题,也不能作为真正的通用内存解决方案。以专注于MRAM的Everspin为例。虽然他们的MRAM方案已经达到了GB级别,但主要是针对物联网和汽车等对容量没有过多需求的市场。

总结

在这一点上,我想大家都知道,这种非易失性存储器最终成功需要的不是性能,而是成本、量产难度和可扩展性。ULTRARAM目前还处于研究阶段。我们是否最终能从一些替代技术中学习,让我们看看在大规模生产和制造中是否会有任何障碍。

原标题:下一代通用内存会是ULTRARAM吗?

 

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